Schicht für Schicht sorgt für Licht: PRORA - prozessnahe Röntgenanalytik in der Photovoltaik / Internationale Fachtagung vom 26. bis 27. 11. zum fünften Mal in Adlershof

All News25. November 2009

Schicht für Schicht sorgt für Licht

PRORA - prozessnahe Röntgenanalytik in der Photovoltaik / Internationale Fachtagung vom 26. bis 27. 11. zum fünften Mal in Adlershof

Press release no. 11/09

Die Herstellung von Photovoltaik-Modulen hat sich in Deutschland dynamisch entwickelt. Bei der Herstellung von Photovoltaik-Modulen der sogenannten CIGS-Technologie, einer Dünnschichttechnologie, werden Molybdän, Kupfer, Indium, Gallium und Selen auf einen Glasträger aufgedampft – in submikrometerfeinen Schichten, deren Zusammensetzung und Dicke exakt bestimmt werden muss. Dies geschieht mit Hilfe der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA). Spezielle Messköpfe überwachen laufend den Produktionsprozess.

Im Wissenschafts- und Technologiepark Berlin Adlershof befasst sich vom 26. bis 27. November  2009 die internationale Fachtagung „Prozessnahe Röntgenanalytik PRORA“ nun schon zum fünften Mal mit der prozessnahen Röntgenanalytik (abgekürzt PRORA). Ein Schwerpunkt der diesjährigen Tagung ist die prozessnahe Röntgenanalytik in der Photovoltaik. Damit wird ein in Deutschland sich dynamisch entwickelnder Industriezweig angesprochen, der für die zukünftige Energieversorgung von großer Bedeutung ist. Darüber stellt PRORA weitere Anwendungsfelder der Röntgenanalytik, z. B. in der Halbleiterindustrie, vor.

Trotz Wirtschaftskrise haben sich mehr als 100 Teilnehmer angemeldet, unter ihnen Fachleute aus den USA, den Niederlanden, Frankreich, Rumänien, der Slowakei, Lettland und Russland. In einer Firmenausstellung sind neben kleinen und mittleren Unternehmen auch weltweit agierende Konzerne, wie z. B. Rigaku (Japan/USA), Bruker AXS (Deutschland), SPECTRO Analytical Instruments (Deutschland) und PANalytical (Niederlande) vertreten.

Im Jahr 2001 berief Professor Norbert Langhoff  die Fachtagung "Prozessnahe Röntgenanalytik PRORA" ins Leben. Sie findet seither alle zwei Jahre mit über einhundert Teilnehmern aus der Industrie, Forschungseinrichtungen und Univer-sitäten statt. Ihre Organisation tragen hauptsächlich die Adlershofer IfG Institute for Scientific Instruments GmbH und der IAP Institut für angewandte Photonik e.V. Die IfG, deren Gründer und Geschäftsführer Norbert Langhoff ist, gehört zu den führenden Produzenten der RFA-Messtechnik. Der IAP e.V. wurde 1999 als  gemeinnützige Forschungseinrichtung aus der IfG ausgegründet. 

Kontakt: 
Dr. Reiner Wedell,
Institut für  angewandte Photonik e.V.
Rudower Chaussee 29/31; 12489 Berlin
Tel. (030) 6392 6503,
Fax: (030) 6392-6501
E-Mail: wedell-iap@ifg-adlershof.de
www.iap-adlershof.de
www.adlershof.de

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