Embedded Seminar - Serielle Busse, Jitter, Compliance Tests

Embedded Seminar - Serielle Busse, Jitter, Compliance Tests

Mittwoch, 06. Juni 2012 // 09.00 - 16.30

datatec Gmbh

Rudower Chaussee 15, 12489  Berlin 
Dorint Adlershof

Embedded Designs stellen hohe Anforderungen im Bereich notwendiger entwicklungsbegleitender Messungen. Um Ihnen hier einen aktuellen Einblick in diese komplexe Thematik zu geben, veranstalten wir in Ihrer Nähe ein Seminar zu diesem Thema.

Themenblöcke:

  • Serielle Busse - Analyse, Dekodierung, Messung von Low Speed Bussen wie z.B. I2C, SPI, RS232, CAN als auch High Speed Bussen wie PCIe, SATA, HDMI
  • Analyse der Signalintegrität bei schnellen Signalen - Jittermessungen, Augendiagramme, LVDS Signalanalyse
  • Compliance Tests - Bei standardisierten Signalen wie USB, PCIe, Ethernet, gibt es umfangreiche definierte Messroutinen. Hier geben wir Ihnen am Beispiel einer Oszilloskop-Software einen Einblick in die Routinen und Protokolle
  • Logic Analyse - Logic Analyzer in Embedded Designs (Probing, Analyse, FPGA Debug)