G-ray Nanotech und IKZ entwickeln gemeinsam Galliumarsenid-Wafer in Detektorqualität: Neue Plattform für leistungsstarke Röntgendetektoren

28. Februar 2019

G-ray Nanotech und IKZ entwickeln gemeinsam Galliumarsenid-Wafer in Detektorqualität

Neue Plattform für leistungsstarke Röntgendetektoren

Galliumarsenid-Einkristall 4", gezüchtet mit der VGF-Methode | Photo: IKZ

Galliumarsenid-Einkristall 4", gezüchtet mit der VGF-Methode | Photo: IKZ

G-ray Nanotech und das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung (IKZ) sind eine Forschungs- und Entwicklungskooperation eingegangen, die die Dotierung von Galliumarsenidstrukturen und die Herstellung von hochreinen Kristallen in Waferform für Detektoranwendungen umfasst.

„Wir freuen uns, mit einem weltweit führenden Institut im Bereich der Materialwissenschaften zusammenzuarbeiten“, sagt Philippe Le Corre, CEO von G-ray Nanotech. „Die Kompetenzen des IKZ werden es uns ermöglichen, den Ausbau unserer latenium™ Detektorarchitektur für Röntgenanwendungen mittlerer bis hoher Energie sowie im Infrarotspektrum deutlich zu beschleunigen.“

G-ray Industries SA, ein Neuchâteler Start-up-Unternehmen, entwickelt derzeit Detektoren ultra-hoher Leistungsfähigkeit für industrielle zerstörungsfreie Prüflösungen. Diese außerordentlich leistungsfähigen Detektoren werden in Zusammenarbeit mit dem CSEM entwickelt und basieren auf der revolutionären, patentierten latenium™-Technologie von G-ray.

Die latenium™ Evaluation Kits sind ab dem ersten Quartal 2019 für Evaluierungszwecke verfügbar. Darüber hinaus werden die G-Ray-Technologien - insbesondere die kovalente Bindung eines Siliziumwafers an einen GaAs, Ge oder Si-Wafer bei niedrigen Temperaturen und das sehr schnelle epitaktische Wachstum von Germaniumstrukturen - in den Bereichen der Hochenergiephysik-Forschung für neue Partikeldetektoren und in Visionssystemen für die Automobilindustrie positioniert.

„Wir freuen uns, eine langfristige Zusammenarbeit mit G-ray Industries zu beginnen“, sagt Prof. Thomas Schröder, wissenschaftlicher Direktor des IKZ. „Wir sind bestrebt, hochleistungsfähige kristalline Materialien für den Markt zu entwickeln, und die hochmoderne Entwicklung von Röntgenbilddetektoren bei G-Ray ist eine gute Gelegenheit für uns. Wir betrachten die 3D-Heterointegration über “bonding”-Ansätze als eine erfolgreiche Strategie für uns, um neue Technologien durch qualitativ hochwertige, präzise zugeschnittene kristalline Materialien zu entwickeln.“

"Mit unserer Expertise in der Materialwissenschaft und -technologie haben wir das G-ray-Team von Anfang an unterstützt. Dies ist eine hervorragende Gelegenheit, eine bahnbrechende Röntgendetektortechnologie auf den Markt zu bringen", sagt Gian-Luca Bona, CEO Empa, der Eidgenössischen Materialprüfungsanstalt.

Medienkontakt IKZ
Stefanie Grüber
Tel.: +49 30 6392-3263
E-Mail: stefanie.grueber@ikz-berlin.de

Wissenschaftliche Ansprechpartner:

Leibniz-Institut für Kristallzüchtung (IKZ)
Thomas Schröder
Wissenschaftlicher Direktor
Tel.: +49 30 6392 - 3000
E-Mail: thomas.schroeder@ikz-berlin.de

G-ray Nanotech SA
Philippe Le Corre
CEO
Mobil: +41 79 171 71 30
E-Mail: philippe.le.corre@g-ray.ch

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